CSK-IIA-1試塊測試方法
CSK-IIA-1試塊測試方法
該類試塊依據承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計,適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內容見下表:
橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭
探頭置于示意圖9中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖9中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖9中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。
探頭置于示意圖9中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。
探頭置于示意圖9中e位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。
探頭置于示意圖9中f位置,前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。
將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線。
縱波靈敏度設定:將選用已校驗好的直探頭
置于示意圖9中g位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖9中h位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖9中i位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。
探頭置于示意圖9中j位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。
探頭置于示意圖9中k位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。
探頭置于示意圖9中L位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。
將以上六點連成一條曲線即為標準中規定的基準線,此時的靈敏度即為基準靈敏度。