CSK-IIA-2試塊測試方法
CSK-IIA-2試塊測試方法
橫波靈敏度的設定:將選用已校驗好的的斜探頭
探頭置于示意圖10中a位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖10中b位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖10中c位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。
探頭置于示意圖10中d位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。
探頭置于示意圖10中e位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。
探頭置于示意圖10中f位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。
探頭置于示意圖10中g位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第七點。
探頭置于示意圖10中h位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第八點。
探頭置于示意圖10中i位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第九點。
探頭置于示意圖10中j位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第十點。
將以上十點連成一條曲線即為標準中規定的基準線。
縱波靈敏度設定:將選用已校驗好的直探頭
探頭置于示意圖10中k位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖10中l位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為**點。
探頭置于示意圖10中m位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點。
探頭置于示意圖10中n位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第四點。
探頭置于示意圖10中o位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第五點。
探頭置于示意圖10中p位置,前后左右移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第六點。
探頭置于示意圖10中q位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第七點。
探頭置于示意圖10中r位置,前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到*大反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第八點。
將以上八點連成一條曲線即為標準中規定的基準線,此時的靈敏度即為基準靈敏度。